SEMINAR: NEUE
HALBLEITERTECHNOLOGIEN – CHANCEN UND NEUE AUSFALLRISIKEN

Neue Halbleitertechnologien werden im Markt überwiegend durch Anwendungen in Consumer-Bereichen vorangetrieben. Der globale Wettbewerb führt die Hersteller zu immer neuen Herausforderungen bezüglich Funktionalität und Rechengeschwindigkeit, bei gleichzeitig hohem Kostendruck.

In diesem zweitätigen Seminar erhalten Sie einen Überblick von verschiedenen Referenten über neue Herausforderungen und Risiken neuer Halbleitertechnologien in der Automobil- und Industrieelektronik. Es werden Ihnen Mittel und Wege beschrieben, wie solche Risiken frühzeitig erkennbar werden und welche Möglichkeiten bestehen, um deren Auswirkungen im konkreten Anwendungsfall zu bewerten bzw. durch geeignete Maßnahmen möglichst zu vermeiden.

Unser IQZ Experte Tobias Buschhaus wird Ihnen interessante Methoden zur Gewinnung von Daten zur Bewertung der Zuverlässigkeit von Bauelementen vorstellen.

Dienstag, 07. Mai 2019, 15:00 Uhr

Technische Akademie Esslingen, An der Akademie 5, 73760 Ostfildern

Methoden zur Gewinnung von Daten zur Bewertung der Zuverlässigkeit von Bauelementen