Seminar: Neue Halbleitertechnologien in Automobil- und Industrieelektronik
Chancen und neue Ausfallrisiken

In diesem Seminar erhalten Sie einen Überblick über neue Herausforderungen und Risiken neuer Halbleitertechnologien in der Automobil- und Industrieelektronik.

Es werden Ihnen Mittel und Wege beschrieben, wie solche Risiken frühzeitig erkennbar werden und welche Möglichkeiten bestehen, um deren Auswirkungen im konkreten Anwendungsfall zu bewerten bzw. durch geeignete Maßnahmen möglichst zu vermeiden.

Unser IQZ Experte Tobias Buschhaus M.Sc. wird Ihnen interessante Methoden zur Gewinnung von Daten zur Bewertung der Zuverlässigkeit von Bauelementen vorstellen.

Dienstag, 15.Mai 2018, 15.00 Uhr

Technische Akademie Esslingen, An der Akademie 5, 73760 Ostfildern

Methoden zur Gewinnung von Daten zur Bewertung der Zuverlässigkeit von Bauelementen

Referent: Tobias Buschhaus M.Sc. / IQZ GmbH

Die detaillierten Anmeldeinformationen finden Sie hier.